Agilent4287A射頻測試儀
簡(jiǎn)要描述:Agilent4287A射頻測試儀在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量,以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同,采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測量。技術(shù)指標測量參數:|Z|,|Y|,L,C, R,D, Q, X,G,B,θ 測量電路形式:串聯(lián)和并聯(lián) 工作頻率:1 MHz~3 GHz 頻率分辨率:10 kHz
- 產(chǎn)品型號:
- 廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間:2023-11-17
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量:1679
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品 牌:Agilent/安捷倫
產(chǎn)品型號: 4287A
產(chǎn)品指標: 1MHz-3GHz
產(chǎn)品信息:安捷倫4287A射頻LCR測試儀
安捷倫4287A射頻LCR測試儀在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量,以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同,采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測量。
技術(shù)指標
測量參數:|Z|,|Y|,L,C, R,D, Q, X,G,B,θ
測量電路形式:串聯(lián)和并聯(lián)
工作頻率:1 MHz~3 GHz
頻率分辨率:10 kHz
信號源特性:
振蕩器電平:5mVrms~0.25Vrms(輸出端開(kāi)路)
電平顯示單位:V,I,dBm
連接器:APC-3.5
輸出阻抗(額定值):50Ω
觸發(fā):內部,外部,手動(dòng)和GPIB
阻抗測量范圍:200 mΩ~3 kΩ
基本測量精度:|Z|:1%;D:0.01
測量時(shí)間:10 ms
接口:GPIB,處理器接口
顯示器:8.4英寸彩色LCD顯示器
儲存:內置HDD/FDD,備用SRAM存儲器
一般指標
工作溫度/濕度:10~40℃/相對濕度15%~80%
預熱時(shí)間:30分鐘
電源要求:90V~132V,或198V~264V,47Hz~66Hz,500VA(zui大值)
尺寸:主機:426mm(寬)×234mm(高)×446mm(長(cháng))
Agilent4287A射頻測試儀主要技術(shù)資料
·儀器指標:
1MHz~3GHz,以100KHz分檔
阻抗測量范圍寬,從200mΩ到3KΩ
在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復性
基本精度為1%
高速測量9ms
Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供精確,可靠和快速測量,以改進(jìn)生產(chǎn)線(xiàn)上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測量技術(shù)不同,采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測量。
·生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠
安捷倫4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4287A的測量速度非???。此外,在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復性還可以顯著(zhù)提高生產(chǎn)率,因為所需的取平均過(guò)程非常短。
·系統組建簡(jiǎn)單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點(diǎn)附近,而不會(huì )使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
·便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀(guān)察測量設置和結果。新研制的用戶(hù)接口使操作過(guò)程更為方便且無(wú)差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試質(zhì)量和效率的過(guò)程??蛇x用的LAN接口有助于統一進(jìn)行生產(chǎn)監控。此外,若干APC-7,SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯(lián)用,從而無(wú)需制作夾具。
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