泰克TEK370A晶體管測試儀

泰克TEK370A晶體管測試儀主要參數：

·半導體器件高精度測量
-上限達2000V或電流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的測量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的測量分辨率（370A）
·波形對比
·包絡(luò )顯示
·波形平均
·點(diǎn)光標（370A）
·Kelvin傳感測量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤(pán)，方便設置參孝存儲和調用
應用
手動(dòng)或自動(dòng)進(jìn)行半導體高分辨率DC參數測量

來(lái)料檢查
生產(chǎn)測試
過(guò)程監視及質(zhì)量控制
數據報告的生成
元件配對
失效分析
工程測試
交互式程控
所有交互式程控測量是通過(guò)有鮮明特點(diǎn)的前面板或GPIB來(lái)完成的。使用幾種存儲方式，調整和存儲操作參數，包括370A的非易失存儲器、內置的MS-DOS兼容的軟盤(pán)或到外部控制器。
泰克TEK370A晶體管測試儀測試夾具
測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應標準的A1001，中間通過(guò)Kelvin傳感的A1005適配器、無(wú)Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。
370A是高分辨率特性曲線(xiàn)圖示儀，可應用到許多場(chǎng)合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場(chǎng)效應管、光電元件、太陽(yáng)能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數特性的測試。
在研發(fā)實(shí)驗室，用370A來(lái)完成新器件、SPIEC參數的提取、失敗分析和產(chǎn)生數據報告這些具體的測試工作
在制造過(guò)程中，用370A檢驗器件質(zhì)量及過(guò)程監視。
370A可進(jìn)行來(lái)料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。
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